|
Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions (2009) |
- A.J. Nelson,
- S. Toleikis,
- H. Chapman,
- S. Bajt,
- J. Krzywinski,
- J. Chalupsky,
- L. Juha,
- J. Cihelka,
- V. Hajkova,
- L. Vysin,
- T. Burian,
- M. Kozlova,
- R.R. Fäustlin,
- B. Nagler,
- S.M. Vinko,
- T. Whitcher,
- T. Dzelzainis,
- O. Renner,
- K. Saksl,
- A.R. Khorsand,
- P.A. Heimann,
- R. Sobierajski,
- D. Klinger,
- M. Jurek,
- J. Pelka,
- B. Iwan,
- J. Andreasson,
- N. Timneanu,
- M. Fajardo,
- J.S. Wark,
- D. Riley,
- T. Tschentscher,
- J. Hajdu,
- R.W. Lee
|
Abstract |
|
Journal article |
Publication details |
|