| Simulation polychromatischer Fernfeld-Specklemuster fur die laseroptische Rauheitsmessung unter Berucksichtigung der fur unterschiedliche Fertigungsverfahren charakteristischen Oberflachen-Mikrotopographien /--Hengbiao Liu. (2001) | |||||
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Abstract | |||||
| Thesis--Universitat Bremen. | |||||
Publication details | |||||
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