Thermal cycles, interface chemistry and optical performance of Mg/SiC multilayers (2008)
Maury, H., Jonnard, Philippe, Le Guen, K., Wang, Z., Zhu, J., ...
The interplay between optical performance and the thermally activated interface chemistry of periodic Mg/SiC multilayers designed for application at 30.4 nm are investigated by optical (hard x-ray,...
Thermal cycles, interface chemistry and optical performance of Mg/SiC multilayers (2008)
Maury, H., Jonnard, Philippe, Le Guen, K., Wang, Z., Zhu, J., ...
The interplay between optical performance and the thermally activated interface chemistry of periodic Mg/SiC multilayers designed for application at 30.4 nm are investigated by optical (hard x-ray,...
Evidence for atomic mixing induced in metallic bilayers by electronic energy deposition (1997)
Leguay, R., Dunlop, M.A., Dunstetter, F., Lorenzelli, N., Braslau, A., Bridou, F., ...
Evidence for atomic mixing induced in metallic bilayers by electronic energy deposition (1997)
Leguay, R., Dunlop, M.A., Dunstetter, F., Lorenzelli, N., Braslau, A., Bridou, F., ...
Analyse angulaire de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe/C (1996)
On a mesuré la variation angulaire de l'intensité du rayonnement de fluorescence Kα du fer émis sous émergence rasante par une multicouche périodique Fe/C. On observe une forte modulation...
Lignes de Kossel observées avec des multicouches périodiques Fe/C (1996)
Chauvineau, J., Hainaut, O., Bridou, F.
On met en évidence la diffraction par la multicouche elle-même du rayonnement de fluorescence caractéristique respectivement X et X mous des deux éléments constitutifs d'un empilement...
Réflectométrie X et diffusion aux petits angles (1996)
Pardo, B., Bridou, F., Maaza, M.
On étudie par une méthode de Monte Carlo la diffusion d'un ensemble de sphères disposées au hasard dans un dioptre. Ceci dans le but de justifier ou de rejeter les hypothèses que l'on pourrait...
La réflectivité en X rasants est couramnent utilisée pour la caractérisation d'empilements de couches minces. Les paramètres à déterminer sont: épaisseurs, rugosités, et indices. On peut y...
Analyse angulaire de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe/C (1996)
On a mesuré la variation angulaire de l'intensité du rayonnement de fluorescence Kα du fer émis sous émergence rasante par une multicouche périodique Fe/C. On observe une forte modulation...
Lignes de Kossel observées avec des multicouches périodiques Fe/C (1996)
Chauvineau, J., Hainaut, O., Bridou, F.
On met en évidence la diffraction par la multicouche elle-même du rayonnement de fluorescence caractéristique respectivement X et X mous des deux éléments constitutifs d'un empilement...
Réflectométrie X et diffusion aux petits angles (1996)
Pardo, B., Bridou, F., Maaza, M.
On étudie par une méthode de Monte Carlo la diffusion d'un ensemble de sphères disposées au hasard dans un dioptre. Ceci dans le but de justifier ou de rejeter les hypothèses que l'on pourrait...
La réflectivité en X rasants est couramnent utilisée pour la caractérisation d'empilements de couches minces. Les paramètres à déterminer sont: épaisseurs, rugosités, et indices. On peut y...
Analyse angulaire de la fluorescence du fer dans une multicouche périodique Fe/C (1996)
On a mesuré la variation angulaire de l'intensité du rayonnement de fluorescence Kα du fer émis sous émergence rasante par une multicouche périodique Fe/C. On observe une forte modulation...
Lignes de Kossel observées avec des multicouches périodiques Fe/C (1996)
Chauvineau, J., Hainaut, O., Bridou, F.
On met en évidence la diffraction par la multicouche elle-même du rayonnement de fluorescence caractéristique respectivement X et X mous des deux éléments constitutifs d'un empilement...
Réflectométrie X et diffusion aux petits angles (1996)
Pardo, B., Bridou, F., Maaza, M.
On étudie par une méthode de Monte Carlo la diffusion d'un ensemble de sphères disposées au hasard dans un dioptre. Ceci dans le but de justifier ou de rejeter les hypothèses que l'on pourrait...
La réflectivité en X rasants est couramnent utilisée pour la caractérisation d'empilements de couches minces. Les paramètres à déterminer sont: épaisseurs, rugosités, et indices. On peut y...
Curvature effect in grazing X-ray reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry is currently used for the characterization of thin layer stacks. The parameters to be determined are thickness, roughness, and optical index. They can be worked out by...
Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry allows the analysis of thin layer stacks. The fitting of the reflectivity curve by a trial and error method can be used in order to determine the parameters of the films....
Curvature effect in grazing X-ray reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry is currently used for the characterization of thin layer stacks. The parameters to be determined are thickness, roughness, and optical index. They can be worked out by...
Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry allows the analysis of thin layer stacks. The fitting of the reflectivity curve by a trial and error method can be used in order to determine the parameters of the films....
Curvature effect in grazing X-ray reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry is currently used for the characterization of thin layer stacks. The parameters to be determined are thickness, roughness, and optical index. They can be worked out by...
Use of Fourier transfoim in grazing X-rays reflectometry (1994)
Grazing X-ray reflectometry allows the analysis of thin layer stacks. The fitting of the reflectivity curve by a trial and error method can be used in order to determine the parameters of the films....