Cortes, A., Delgado, E., Prieto, P., Lopera, W.
Current as function of voltage (I-V curves) measurements at different temperatures were carried out in SrTiO3+Nb/Pb(Zr0.52Ti0.48)O3/Ag capacitor structures grown on (100) SrTiO3 Nb-doped substrates...
Dependencia de rugosidad de escala con la temperatura (2007)
Sánchez, C.W., Ramírez, J. G., Gómez, M. E., Lopera, W., Caicedo, J.C.
A quantitative statistical study was done on digitized atomic force microscope (AFM) images of La2/3Ca1/3MnO3 (LCMO) thin films. Films were grown via sputtering technique at high-oxygen pressures,...
Santander-Syro, A. F., Lobo, R. P. S. M., Bontemps, N., Lopera, W., Girata, D., Konstantinovic, Z., ...
The in-plane infrared and visible (3 meV-3 eV) reflectivity of Bi2Sr2CaCu2O8+d (Bi-2212) thin films is measured between 300 K and 10 K for different doping levels with unprecedented accuracy. The...
Scaling laws in PZT thin films grown on Si(001) and Nb-Doped SrTiO3(001) substrates (2006)
Ramírez,J.-G., Cortes,A., Lopera,W., Gómez,M. E., Prieto,P.
A dynamic scaling and kinetic roughening study was done on digitized atomic force microscope (AFM) images of Pb(Zr0.52,Ti0.48)O3 (PZT) thin films. The films were grown on Si(001) and Nb - SrTiO3(001)...
Empleo de un sistema basado en el efecto kerr (moke) para el estudio de peliculas magneticas (2006)
Calle, C., Berger, A., Guzmán, O., Marín, O., Cortés, A., Lopera, W., ...
Se ha implementado un sistema de caracterización Magneto-Óptica basado en el Efecto Kerr MO-KE, en geometría polar, esto es, en donde la magnetización es paralela al plano de incidencia y normal...
Escalamiento dinámico y cinética de rugosidad en películas delgadas de PZT/SI(100) (2006)
Cortés, A., Lopera, W., Gómez, M. E., Ramírez, J. G.
Se realizó un estudio del escalamiento dinámico y la cinética de rugosidad usando imágenes de Microscopia de Fuerza Atómica (AFM) de películas delgadas de Pb(Zr0.48Ti0.52)O3 (PZT) sobre...
Delgado, E., Cortés, A., Lopera, W., Prieto, P.
Las propiedades ferroeléctricas y los estados de enlace químico de películas delgadas de PbZr0.52Ti0.48O3 (PZT) depositadas sobre SrRuO3/SrTiO3 por pulverización catódica fueron inves-tigados...
Fabricacion de peliculas delgadas de VO2 por sputtering RF (2005)
Córdoba, M.F., Coy, H., Quinayas, C., Coronel, J.W., Gross, K., Lopera, W., ...
Utilizando un sistema de pulverización RF (Magnetrón Sputtering ) a 13.56 MHz en una atmósfera de argón puro a presiones de 9 x 10-3 mbar hemos depositado ¿in situ¿ películas delgadas de VO2...
Respuesta radiación infrarroja y visible de pelìculas delgadas de Bi2Sr2CaC2O8+d (2005)
Santander-Syro, A.F., Lobo, R., Lopera, W., Giratá, D., Bontemps, Nicole
Para una película delgada epitaxial superconductora de Bi2Sr2CaC2O8+d crecida sobre un substra-to de LaAlO3, por el método de pulverización catódica a altas presiones de oxígeno, se comparan las...
Curvas caracteristícas I-V en condesadores ferroelectricos de PZT (2005)
Cortes, A., Delgado, E., Lopera, W., Prieto, P.
Se realizaron medidas de curvas características de corriente-voltaje ( I-V ) a diferentes temperaturas en condensadores ferroeléctricos basados en películas delgadas de Pb(Zr 0.52 Ti 0.48 )O 3...
Fabricacion de peliculas delgadas de VO2 por sputtering RF (2005)
Córdoba, María F., Coy, H., Quinayas, C., Coronel, J.W., Gross, K., Lopera, W., ...
Utilizando un sistema de pulverización RF (Magnetrón Sputtering ) a 13.56 MHz en una atmósfera de argón puro a presiones de 9 x 10-3 mbar hemos depositado ¿in situ¿ películas delgadas de VO2...
Respuesta radiación infrarroja y visible de pelìculas delgadas de Bi2Sr2CaC2O8+d (2005)
Santander-Syro, A.F., Lobo, R., Lopera, W., Giratá, D., Bontemps, Nicole
Para una película delgada epitaxial superconductora de Bi2Sr2CaC2O8+d crecida sobre un substra-to de LaAlO3, por el método de pulverización catódica a altas presiones de oxígeno, se comparan las...
Curvas caracteristícas I-V en condesadores ferroelectricos de PZT (2005)
Cortes, A., Delgado, E., Lopera, W., Prieto, P.
Se realizaron medidas de curvas características de corriente-voltaje ( I-V ) a diferentes temperaturas en condensadores ferroeléctricos basados en películas delgadas de Pb(Zr 0.52 Ti 0.48 )O 3...
Santander-Syro, A. F., Lobo, R. P. S. M., Bontemps, N., Lopera, W., Girata, D., Konstantinovic, Z., ...
The in-plane infrared and visible (3 meV-3 eV) reflectivity of Bi2Sr2CaCu2O8+d (Bi-2212) thin films is measured between 300 K and 10 K for different doping levels with unprecedented accuracy. The...